偏振相关损耗伪效应
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偏振相关损耗伪效应
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       偏振相关损耗伪效应(STDPDL)是一种高精度光学标准,专为验证和校准用于偏振敏感应用(如电信和光学测试)的测量设备而设计。该标准提供稳定且明确的PDL值,因此非常适合用于基准测试及确保测量精度。
        STD-PDL集成了一致的偏振依赖性衰减元件,可提供可控且可重复的PDL值。这使得用户能够精确验证并校准其设备中的PDL测量结果。在典型应用中,STD-PDL会与测量系统连接,用于评估不同偏振状态下的性能表现。该设备有助于验证PDL的精度、插入损耗随时间的变化稳定性,以及在不同波长下的性能一致性。这确保了设备性能的可靠性,并使测量结果能够按照行业标准进行追溯。
        通过将STD-PDL集成到测试流程中,用户能够提升不同设备和环境下的测量一致性,从而增强对维持高质量光网络性能所需关键数据的信心。

 

产品特点:

 

应用:

• 稳定的PDL值
• 有多组PDL值可供选择
• 宽波长范围
• 插入损耗
• 高重复性
• 紧凑且坚固的设计
• 提供多种连接器类型
  • PDL测量设备的校准   
• 光学组件性能的验证       
• 常规设备性能检查
• 质量保证中的可追溯性
• 光学系统的研究与开发



 

 

项目 参数说明
偏振相关损耗(标称值) 0.1, 0.2, 0.4, 0.5, 1.0, 1.5, 2.0 dB,也可提供其他数值
偏振相关损耗不确定度 ±(0.005 dB + 1% × 偏振相关损耗值)
工作波长范围  1520 至 1620 nm,或 1260 至 1360 nm
插入损耗  偏振相关损耗值 + 0.7 dB
回波损耗 ² 50 dB
温度稳定性 0.001 dB/℃
光功率承受能力 300 mW
连接器类型 FC、SC、LC、ST
工作温度 23 ± 5℃
存储温度 -40 至 80℃
尺寸规格 10.5 × 10 × 76 mm